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折射计和用于定性及定量测量的方法
无权-未缴年费
权利转移

申请号:99803956.X 申请日:1999-11-12
摘要:公开了一种传感器设备和相关的方法,用于检测和监视分析物和固定的粘合层的特定粘合。该设备最好包括自动临界角折射率计(22),它具有线性扫描阵列和用于照射一部分线性扫描阵列的光学系统,这种照射取决于淀积在透光元件上的粘合层的折射率。该设备进一步包括流动室(28),用于使分析物和粘合层(51)接触。本发明的优选检测方法一般来说包括:提供临界角折射计以产生击中固定的粘合层的光,使粘合层与接触相(59)接触,测量全反射的临界角,这个测量值表示在分析物和粘合层之间的相互作用是否存在。
申请人: 莱卡微系统公司
地址: 美国纽约州
发明(设计)人: T·E·赖安 M·J·拜尼
主分类号: G01N21/41
分类号: G01N21/41 G01N33/543 G01N33/551 G01N33/544
  • 法律状态
2009-01-14  专利权的终止(未缴年费专利权终止)授权公告日:2006.1.18
2006-04-26  <变更事项>专利权人<变更前权利人>莱卡微系统公司<变更后权利人>李克特有限公司<登记生效日>2006.03.17
2006-04-26  <变更事项>地址<变更前权利人>美国纽约州<变更后权利人>美国纽约州<登记生效日>2006.03.17
2006-01-18  授权
2001-05-09  
2001-05-02  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种利用临界角折射测量原理检测在粘合层上是否存在分析物 的方法,该方法包括: 提供第一透光元件和第二透光元件,第一透光元件的折射率大于 第二透光元件的折射率,第二透光元件具有粘合层; 提供接触相; 使接触相接触第二透光元件的粘合层; 让光穿过第一和第二透光元件,使光击中第二透光元件和粘合层 之间的界面上;和 探测在检测元件上的亮区和暗区之间的边界的位置,边界的位置 表示在粘合层上是否存在配位体。
公开号  1293757A
公开日  2001-05-02
专利代理机构  中国专利代理(香港)有限公司
代理人  卢新华 杨丽琴
颁证日  
优先权  1998.11.13 US 60/108414
国际申请  PCT.US99/26981 1999.11.12
国际公布  WO00.29830 英 2000.5.25
进入国家日期  2000.09.13