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结构水平位移观测装置
无权-未缴年费

申请号:98208335.1 申请日:1998-09-10
摘要:结构水平位移观测装置,包括一个可以安装在相对固定点的托盘4,托盘4有一个通过张线1的缺口和一个作为测量基准的三棱锥体5。显微镜6和测微器7相互垂直安装在托盘上,其定位点是显微镜6能清楚瞄准张线时的调焦范围的中点,并在x方向和y方向均可定位。该装置可用于测量核电站安全壳及其它高耸大跨度结构的水平位移,分辨率为0.01mm,最大绝对误差0.15mm,优于美国相关标准,测读方便,长期稳定性好。
申请人: 冶金工业部建筑研究总院
地址: 100088北京市海淀区西土城路33号
发明(设计)人: 赵树明 林松涛 谢永金
主分类号: G01B11/02
分类号: G01B11/02 G01B9/04
  • 法律状态
2004-11-03  
1999-08-25  授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.结构水平位移观测装置,包括一个可以安装在对被测结构来说是相对固 定点的托盘(4),它有一个通过测点张线(1)的缺口,缺口附近的托盘上有测量基 准物,其特征是: a.所说托盘上的基准物有一个,它是一个至少有一条直线段垂直于托盘(4) 的物体; b.还有光路上有十字丝的显微镜(6)和螺旋测微器(7),它们在托盘(4)上相 互垂直安装,前者在上,后者在下,用螺丝把显微镜(6)固定在螺旋测微器(7)的 滑块上; c.以所说显微镜能清楚瞄准张线(1)时,其调焦范围的中点作为它们在托盘 (4)上的安装定位点,这样的定位点在x方向和y方向各取1个; d.所说基准物的直线段至缺口中心的距离在x方向和y方向相等,且大于张 线(1)的预期最大位移而小于螺旋测微器(7)的量程。
公开号  2335122
公开日  1999-08-25
专利代理机构  冶金专利事务所
代理人  张友文
颁证日  1999-07-23
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期