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半导体电路装置
无权-视为撤回

申请号:97113849.4 申请日:1997-06-27
摘要:在内部电源电路产生振荡的情况下,能够很容易地评价驱动晶体管的最佳栅极宽度。把另一个驱动晶体管303与降压变换器300中的驱动晶体管302并联连接起来,根据由WCBR和地址键的检出而激活的测试方式信号TE,使驱动晶体管303有选择地去激活。
申请人: 三菱电机株式会社
地址: 日本东京都
发明(设计)人: 伊藤孝
主分类号: G11C11/34
分类号: G11C11/34
  • 法律状态
2004-07-14  
1998-05-27  公开
1998-02-18  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种半导体电路装置,该装置接受外部电源电压并具有正常方式 和测试方式;其特征在于,备有: 连接到内部电源节点并进行规定的操作的内部电路; 连接到接受所述外部电源电压的外部电源节点,把低于所述外部电 源电压的内部电源电压供给所述内部电源节点的第1内部电源装置; 连接到所述外部电源节点,把所述内部电源电压供给所述内部电源 节点的第2内部电源装置; 以预定的时序响应于从外部提供的控制信号,检出所述测试方式, 产生第1测试方式信号的检出装置;以及 响应于所述第1测试方式信号,激活/去激活所述第2内部电源装置 的激活/去激活装置。
公开号  1182938A
公开日  1998-05-27
专利代理机构  中国专利代理(香港)有限公司
代理人  杨凯 叶恺东
颁证日  
优先权  1996.11.18 JP 306542/96
国际申请  
国际公布  
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