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自动操纵装置和利用它测量器件的方法
无权-未缴年费

申请号:95191215.1 申请日:1995-10-02
摘要:一种能在与单独测量器件电学特性所花费的时间大体相同的时间内同时测量器件电学特性并精确检验器件外观的自动操纵装置和一种利用该自动操纵装置的器件测量方法。在该操纵装置内组合一种紧凑而高精度的器件外观自动检验装置,后者包括一个具有多个亮度可控的发光元件的照明装置和一个将拍摄的图像转换成待输出的像素数据的CCD照相机之类的照相机。接受了电学特性测试的器件中被分类为需要检验外观的器件在检验装置中检验其外观。在电学测试和外观检验的数据基础上将器件分类,而后输送到相应的器件存放机构内。由于在一次通过中不但能测试器件的电学特性,还能自动和准确地实现外观检测,外观检查所费的时间可大大减少,导致生产率提高和测试成本的降低。
申请人: 株式会社爱德万测试
地址: 日本东京都
发明(设计)人: 后藤敏雄 菊池有朋 叶山久夫
主分类号: G01N21/88
分类号: G01N21/88 G01R31/26
  • 法律状态
2011-12-07  未缴年费专利权终止IPC(主分类):G01N 21/88申请日:19951002授权公告日:20030226终止日期:20101002
2003-02-26  授权
1997-01-08  
1996-12-25  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种器件自动操纵装置,用于将器件从装载器部分输送到测试部分,在该 测试部分中测试上述器件的电学特性,而在测试后,将测试过的器件从测试部分输 送到卸载器部分,随后在测试结果的基础上对测试过的器件进行分类,上述器件操 纵装置在其中安装有: 一种检验器件外观用的器件外观自动检验装置,该器件外观检验装置装有亮度 可控的照明机构,结构紧凑,具有高分辨率。
公开号  1138898A
公开日  1996-12-25
专利代理机构  柳沈知识产权律师事务所
代理人  杨梧
颁证日  
优先权  1994.10.6 JP 268230/94
国际申请  PCT.JP95/02004 95.10.2
国际公布  WO96.11392 日 96.4.18
进入国家日期  1996.07.12