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颗粒粒径的测量装置
无权-未缴年费

申请号:92234268.7 申请日:1992-09-30
摘要:本实用新型提供了一种利用光学显微镜直接测量颗粒粒径的测量装置,该装置利用步进电机来驱动载物平台进行视场切换,并用步进电机来驱动可动分划板进行移动。这样通过计算控制分划板移动扫过粒径所需的脉冲数就可精确计算粒径,并可利用微机之类的装置进行自动计算。视场切换精确,并可极大降低操作人员的劳动强度,提高测量速度,并可保证测量的精确性。
申请人: 上海市测试技术研究所
地址: 200233上海市宜山路716号
发明(设计)人: 李栋 顾雪梅
主分类号: G01N15/02
分类号: G01N15/02
  • 法律状态
1995-11-15  
1993-10-20  授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种直接测量颗粒粒径的测量装置,包括一光学显微镜,该光学显微镜由照明部分、载物平台、光学放大部分以及包括固定分划板和可动分划板的粒径测量部分组成,其特征在于: 还包括两个分别驱动载物平台进行横向和纵向移动的步进电机和一个驱动可动分划板进行斜向移动的步进电机,所述各步进电机分别通过各自的传动机构与载物平台及可动分划板连接;还包括一向各步进电机输入脉冲信号的装置。
公开号  2144304
公开日  1993-10-20
专利代理机构  上海专利事务所
代理人  郑立
颁证日  1993-06-27
优先权  
国际申请  
国际公布  
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