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数字集成电路测试仪器及测试探头
无权-未缴年费
著录变更

申请号:92220274.5 申请日:1992-09-15
摘要:一种利用数字集成电路的逻辑状态图和真值表来观察判断其功能的在线、离线测试方法和测试仪器,逻辑状态图是三态实时显示的,可测TTL和各种电源电压的CMOS电路,可以对动态运行的电路实行瞬态锁定,还能对被测IC进行多点同时双向多重强迫驱动,有八种触发驱动信号,可实现多种组合,使被测IC进入任意工作状态。又能用同型号的IC进行逻辑比较,同时进行逻辑状态的观察和驱动,还能进行三态离线测试。附有能观察瞬变现象声光显示的逻辑探头。
申请人: 四川大学
地址: 610064四川省成都市九眼桥四川大学
发明(设计)人: 陈孝一 余元忠
主分类号: G01R31/28
分类号: G01R31/28
  • 法律状态
1997-11-05  
1993-12-08  <变更项目>设计人<变更前>陈孝一 余元忠<变更后>陈孝一
1993-11-24  授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种数字集成电路测试仪,包括被测IC夹(6),其特征在于还包括强迫驱动电路(1),逻辑状态判别及选通电路(2)和三态显示及瞬态锁定电路(3),强迫驱动电路(1)的输出信号可加到被测IC的输入端,被测IC的各路信号进入逻辑状态判别及选通电路(2),(2)的输出信号则进入三态显示及瞬态锁定电路(3)。
公开号  2147548Y
公开日  1993-11-24
专利代理机构  四川大学专利事务所
代理人  韩运浦
颁证日  1993-09-12
优先权  
国际申请  
国际公布  
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