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干涉法折射率测定仪
无权-视为放弃

申请号:92108381.5 申请日:1992-04-16
摘要:本发明公开了一种用干涉法测定光学透明材料特别是高折射率材料和各向异性晶体的折射率绝对值的光学仪器,它对待测样品形状的要求仅是有一对平行的通光平面,它对待测折射率的范围无限制。它的干涉仪由于使用同光路干涉模式,因而有极好的稳定性。由于使用了计算机它工作完全是自动化的。它测折射率的精度可达1×10-5。它无需改造便可用来测定连续激光的波长。它测波长的精度可达5×10-10cm。
申请人: 上海师大科技开发总公司
地址: 200234上海市桂林路十号
发明(设计)人: 徐怀方
主分类号: G01N21/45
分类号: G01N21/45
  • 法律状态
2005-10-19  
1993-10-20  公开
1993-03-24  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种用光学干涉方法测定透明材料折射率绝对值的光学测量方法,其特征在于运用一个用同光路干涉模式工作的干涉仪,将具有一对平行通光平面的待测样品置于干涉仪光路的一臂中,将样品从与光线垂直位置算起转动一个精密测定的转角θ,并精密测定在样品转过θ角过程中干涉条纹的移动数K,从而通过已知的样品厚度t及干涉仪工作所用的单色相干光的波长λ,利用下式 N= [2t2(1-COS θ )-Kλt(1-COSθ)+1/4K2λ2 [2t2(1-COS θ )-Kλt ] 算出待测的材料折射率n。
公开号  1077533
公开日  1993-10-20
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颁证日  
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