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激光表面粗糙度检测仪装置
无权-未缴年费

申请号:90214799.4 申请日:1990-07-24
摘要:一种激光表面粗糙度检测仪装置。该装置由测量头和电箱组成,测量头含有激光器2,光纤自聚焦透镜3,测量物镜4,聚光柱面镜6组成,电箱由自稳功率激光源1,前置放大器8,A/D转换器9,单片机10,LED显示11和键盘12组成。它通过对表面散射光的分析,快速的确定表面粗糙度的表征参数RaR2值或旧国标的相应级别。并具有功耗低抗干扰能力强,稳定性好、测量范围大、体积小、成本低和便于携带的特点。
申请人: 成都科技大学
地址: 610065四川省成都市磨子桥成都科技大学
发明(设计)人: 周卫东 王世华 周肇飞
主分类号: G01B11/30
分类号: G01B11/30
  • 法律状态
1995-09-20  
1991-12-04  授权
1991-04-24  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种激光表面粗糙度检测仪装置[1][2],其特征在于它由可以手持工作的测量头和电箱组成,测量头含有半导体激光器(2),光纤自聚焦透镜(3),测量物镜(4)和聚光柱面镜(6),被测工件表面(5)和光电三极管阵列(7)分别位于测量物镜的物、象方焦面处,电箱由自稳功率激光电源(1),前置放大器(8),A/D转换器(9),Mcs-51单片微机(10),LED显示(11)和键盘(12)组成。
公开号  2075770
公开日  1991-04-24
专利代理机构  成都科技大学专利代理事务所
代理人  邓继轩
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期