搜索 分析 新世界 法规 图书 网址导航 更多
高级用户登录 | 登录 | |

对置于近场中的物质所吸收或衍射的光进行精密光谱分析的方法
无权-届满

申请号:90108830.7 申请日:1990-11-03
摘要:本发明涉及一种对被透光和/或反光的放置于近场中的物质所折射或吸收的光的精确光谱分析方法,该近场由第一电磁辐射在传播或反射中产生,其特征在于该精确光谱分析在所述的近场和/或第二电磁辐射的基础上进行,同时与所述的第一电磁辐射一道引至所述的物质上,所述的分析与所述的近场或与所述物质相互作用的第二电磁辐射的一部分有关。本发明特别适于透光和/或反光物质的高解析度光谱研究,其光轮廓或几轮廓借助于光学近场扫描显微镜如受抑瞬态场传播显微镜或引导近场反射显微镜的帮助同时得到测量。
申请人: 斯皮拉尔研究发展公司
地址: 法国库泰农
发明(设计)人: 德·福尔耐尔·弗雷德里克 古东内·让-皮埃尔
主分类号: G01N21/25
分类号: G01N21/25 G01N23/06 G02B6/26 G02B21/00
  • 法律状态
1993-02-17  
1991-06-19  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、被放置于近场中的透光的和/或反光的物质折射或吸收的光的精确光谱分析方法,所述近场是由第一电磁辐射在传播或反射中产生的,其特征在于这种精确光谱分析是在所述的近场之上和/或与上述的第一电磁辐射同时到达所述物质之上的第二电磁辐射上进行的,所述的分析与所述的近场或与所述的物质发生相互作用的所述的第二电磁辐射的一部分有关。
公开号  1052373A
公开日  1991-06-19
专利代理机构  中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人  冯赓瑄
颁证日  
优先权  1989.11.3 FR 8914425
国际申请  
国际公布  
进入国家日期