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测量超导材料穿透深度的微波传输法
无权-未缴年费

申请号:90102824.X 申请日:1990-03-27
摘要:本发明是一种超导材料穿透深度的测量方法,该方法是建立在超导材料的穿透深度与该材料的微带线段于超导态和正常态时的相位差有明确的函数关系这一基础之上的。本发明先制作一条特性阻抗为50Ω的铜微带线,其中取下一段,代以相同长度和宽度的被测超导线段,用微波网络分析仪分别测出有关相位值,从而获得超导微带线段在超导态和正常态下的相为差,并通过计算求得穿透深度值。本发明使用方便,并具有宽频带的优点,对体超导材料和超导薄膜均适用。
申请人: 复旦大学
地址: 200433上海市邯郸路220号
发明(设计)人: 蔡树榛
主分类号: G01N22/00
分类号: G01N22/00
  • 法律状态
1994-02-02  
1993-01-27  授权
1992-04-08  审定
1990-09-05  公开
1990-08-22  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种测量超导材料穿透深度的微波传输法,以微波网络分析仪A为测量工具,其特征在于包括如下步骤: (1)制作一条特性阻抗为50Ω的铜微带线,用A测出电磁波通过它的位相ψ0; (2)在50Ω铜微带线上取下一段,以相同长度和宽度的超导微带线段(体材料或薄膜)来代替,用A测出电磁波通过它的相位ψ1,从而得到在室温下电磁波通过超导微带线段的相位:ψ2=ψ*+(ψ1-ψ0),其中ψ*为替换下铜带线段的相位,是可测已知值; (3)用液氮冷却微带线段,并用A测出该微带线段在超导状态下电磁波通过它的相位ψ3,从而获得微带线段在超导态和正常态下的相位差△ψ=ψ3-ψ2; (4)由函数关系式△ψ=F1(F(λ)),求得超导体的穿透深度λ。
公开号  1045181A
公开日  1990-09-05
专利代理机构  复旦大学专利事务所
代理人  陆飞
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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