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微波介质基片复介电常数测试传感器
无权-未缴年费

申请号:89213062.8 申请日:1989-07-12
摘要:一种微波介质基片复介电常数测试传感器,是由两片同种材料、同样大小的被测介质基片、一根直的谐振金属导带、两块金属接地板、以及在中心谐振金属导带两端对称地放置有两根输入和输出同轴线组成。本测试传感器的优点是实现了介质基片复介电常数宽范围的、宽频带的、迅速准确的非损伤测量。
申请人: 电子科技大学
地址: 四川省成都市建设北路二段四号电子科技大学
发明(设计)人: 唐宗熙 张其劭 李功孝 陈玲 樊勇
主分类号: G01R27/26
分类号: G01R27/26
  • 法律状态
1994-06-01  
1991-05-08  授权
1990-09-19  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、微波介质基片复介电常数测试传感器,它是由被测介质基片,谐振金属导带、金属接地板所形成的谐振器与同轴线和加压装置组合构成,其特征是: (1)谐振金属导带置于两块被测介质基片的正中。 (2)同轴线通过空气隙与谐振器耦合。
公开号  2062457
公开日  1990-09-19
专利代理机构  电子科技大学专利事务所
代理人  盛明洁
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期