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平面波天线零桥断层成像测试装置
无权-视为撤回

申请号:89100589.7 申请日:1989-02-21
摘要:平面波天线零桥断层成像测试装置,属于非金属材料的无损检测和断层成像技术。本发明的微波部分设计采用E面扩展的窄波束喇叭作下斜馈源,同抛物面反射体组合成一体,简便地构成平面波照射源;同时由微波零桥环路抵消强入射波信号。因而可以精确地检测出目标的微散射场,并直接计算和完成图像处理。由于该微波测试装置实现了大口径天线和强入射波照射,大大提高了系统的分辨力,可实现对较复杂结构的电介材料进行断层成像。
申请人: 北京理工大学
地址: 北京市海淀区白石桥路7号
发明(设计)人: 赵川东
主分类号: G01N22/02
分类号: G01N22/02
  • 法律状态
1993-06-16  
1992-03-11  审定
1990-09-05  公开
1989-08-23  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种平面波天线零桥断层成像测试装置,由微波信号源(7),扫描与旋转机构(9)微波照射与信息检测器(8)、两路幅相接收机(10)、模/数转换器与接口电路(11)、电子计算机(12)、图像显示器(13)、外存贮器(14)和打印机(15)组成,其特征在于:微波照射与信息检测器(8)采用产生平面波的天线与零桥测量系统合为一体的设计,它由窄波束喇叭(28)抛物面天线(36)、直口喇叭接收天线(33)、隔离器(7′)、定向耦合器(19)、(22)、(30)、谐波混频器(20)、粗调度减器(23)、移相器(24)、精密极化衰减器(25)、混频器(31)、测试罐(35)等组成。
公开号  1045182A
公开日  1990-09-05
专利代理机构  
代理人  
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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