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超声波探伤缺陷定位尺
无权-未缴年费

申请号:87214287 申请日:1987-10-12
摘要:一种超声波缺陷定位尺,由尺身、滑尺、游标构 成。尺身由面板(5)、限位臂(2)和(3)以及板条(6)和 (7)组成。在面板(5)上设置有标注有K值的斜线 族。在板条(6)和(7)上分别设置有K尺标和X尺 标,在滑尺(4)的中间处设置有坐标系,其两边设置有 C尺标和XF尺标。上述四种尺标满足了缺陷定位 尺的计算需要。利用本定位尺能方便地配合超声波 探伤仪对缺陷进行现场快速定位,无需进行繁琐的数 学计算。
申请人: 天津大学分校
地址: 天津市鞍山西道
发明(设计)人: 朱宝安
主分类号: G01N29/04
分类号: G01N29/04 G06C1/00
  • 法律状态
1991-03-13  
1989-03-22  授权
1988-08-03  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种超声波探伤缺陷定位尺,由尺身、滑尺和游标构成,其特征是,所述尺身[1]由面板[5]、限位臂[2]和[3]以及板条[6]和[7]组成,面板[5]与板条[6]和[7]之间有槽口,以便滑尺[4]可以左右滑动,面板[5]的外表面上刻有K值斜线,板条[6]和[7]上分别刻有K尺标和X尺标,滑尺[4]的一面中间处设置有坐标系,滑尺[4]另一面的两边分别刻有C尺标和XF尺标,上述K尺标是按 Lg 1010·K1+K2的公式刻制的,K值斜线是根据K=tgβ的公式刻制的。
公开号  87214287U
公开日  1988-08-03
专利代理机构  天津大学专利代理事务所
代理人  江镇华
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期