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原位粒径测量仪
无权-未缴年费

申请号:87100685 申请日:1987-02-12
摘要:对存在于流质中的粒子同时进行粒径分布和容积密度现场测量的粒径测量仪.其包括激光源14,激光传输装置40,校正器,第一聚焦装置64,待测粒子通过的取样通道74,第二聚焦装置78和检测装置82.其操作方式是:源14的激光通过装置40传到校正器,经校正传至装置64,经聚焦穿过通道74,在此期间,由于其内的粒子而引起散射.散射和校正光均由装置78捕集而聚集到装置82上.由其采集激光强度分布,由此光强分布导出粒径分布并由预定方程算出容积密度.
申请人: 燃烧工程有限公司
地址: 美国康涅狄格州
发明(设计)人: 詹姆斯·马丁·奈兹奥利克 詹姆斯·菲那兹·萨顿三世
主分类号: G01N15/02
分类号: G01N15/02 G01N15/00 G01N21/85
  • 法律状态
1995-04-05  
1989-11-29  授权
1989-03-01  审定
1987-08-26  公开
1987-07-22  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、用于获得(存在于某种流体物质中的)粒子大小的测量结果的粒径测量仪,其特征在于包括: a.一个探头部分,其内形成有一个聚样通道,包含待测粒子的流动物质流过该通道; b.一个光源,能用于产生包括多根单独光线的一束光; c.与所述光源光学耦合的光传输装置,所述光传输装置能传输来自所述光源的光束; d.第一聚焦装置,该装置安装在所述探头部分内,被置于所述取样通道的一个侧面上,所述第一聚焦装置被光学耦合到所述光传输装置,以便从那里接收光束,所述第一聚焦装置为如此聚集穿过所述取样通道的光束而起作用,以致当该光束穿过所述取样通道时,包含在所述取样通道内的流体物质中的粒子能够引起该光束的各光线的散射; e.第二聚焦装置,该装置安装在所述探头部分内,被置于所述取样通道的另一侧面上并与所述第一聚焦装置对齐,所述第二聚焦装置能捕获在其穿过所述取样通道过程中被散射了的光线;和 f.检测装置,该装置被光学耦合到所述第二聚焦装置,用以接收来自第二聚焦装置的散射的和校正光线,所述检测装置能根据所接收的散射光线光强而产生与(光线穿过所述取样通道时,引起其散射的)粒子大小有关的信号。
公开号  87100685
公开日  1987-08-26
专利代理机构  中国专利代理有限公司
代理人  吴增勇 许新根
颁证日  
优先权  1986.2.12 US 828,480
国际申请  
国际公布  
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