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π尺精度的模拟圆检测方法及装置
无权-驳回

申请号:86106636 申请日:1986-09-22
摘要:本发明提供了一种简单易行的检测π尺精度的 方法和装置——模拟圆检测方法和装置。本发明的 特点是将被测π尺展开成直线状态,与标尺重叠在 一起进行比较,并模拟在圆上的读数方法,检测出π 尺的任意示值,代替了标准圆检测π尺精度的方法。 在常温下,达到高精度检测的目的。模拟圆检测π尺 的装置结构简单,使用方便,成本低,精度高。
申请人: 沈阳市工具研究所
地址: 辽宁省沈阳市沈河区三经街五段五里十九号
发明(设计)人: 于若愚 李延增 于洪珍 关成义
主分类号: G01B5/02
分类号: G01B5/02 G01B5/08
  • 法律状态
1988-11-23  
1987-10-07  
1987-04-29  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种常温下检测π尺精度的方法,其特征在于: a.将π尺[5]在长度方向上展开成直线,与一标尺[4]重叠比照,从标尺[4]上读出数值,来检测任意π尺任意示值的误差; b.标尺[4]检测π尺[5]的读数方法采用π尺检测工件的读数方法; c.在检测时,标尺[4]和被测π尺[5]各挂一个重锤[6]、[8],保持与实际检测时等效的拉力。
公开号  86106636A
公开日  1987-04-29
专利代理机构  沈阳市专利事务所
代理人  张宪恩
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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