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光电尺寸测量装置
无权-届满

申请号:85201059 申请日:1985-04-01
摘要:光电尺寸测量装置,一种用于测量物体尺寸的装置,为了克服已有技术中其它同类装置价格昂贵,常受测量现场干扰,并易遭损害等缺点而作出本发明,该测量装置由一个测量头和一个运算装置组成,测量头内有至少二片硅光电池作为工作片和补偿片,运算装置内有一个能完成工作片短路电流除于补偿片短路电流运算的除法电路,由于硅光电池信号强,不怕强光,价格便宜,因此本发明有结构简单,性能稳定、价廉而且在测量现场使用方便等优点
申请人: 昆明钢铁公司钢铁研究所
地址: 云南省安宁县
发明(设计)人: 张承辉
主分类号: G01B11/00
分类号: G01B11/00
  • 法律状态
1986-08-20  授权
1986-02-05  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种非接触式光电尺寸测量装置,其特征是由一个测量头和一个运算装置组成,在测量头内有至少二片硅光电池作为工作片和补偿片,工作片与补偿片是采用参数相同或相近的硅光电池,被测物体成像在工作片能进行光电转换的有效受光部分内,而补偿片的有效受光部分始终被物体的像全部复盖,在运算装置内有一个能完成工作片短路电流除以补偿片短路电流运算的除法电路。
公开号  85201059
公开日  1986-02-05
专利代理机构  云南省专利事务所
代理人  范严生
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期