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光学物性测定装置
无权-终止

申请号:85200312 申请日:1985-04-01
摘要:本实用新型系利用光束在三块经适当配置的镀有高反射膜层的球面反射镜之间多次反射但发散度保持不变的性质,来测量不同介质(气体、液体及透明固体介质)在不同物理条件(电、磁场强度、气压、温度、放电激发)下于不同波长处的吸收,增益等物性.本仪器的光程(反射次数)调节及信号测量与处理均由计算机程控完成.
申请人: 中国科学院物理研究所
地址: 北京市603信箱
发明(设计)人: 张治国 俞祖和 朱化南 韩权生
主分类号: G01N21/17
分类号: G01N21/17
  • 法律状态
1990-08-01  
1986-09-03  授权
1986-02-19  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种由样品室[4]及固体样品室的定位装置[20]、光电检测器[12]、数据显示系统[13]所组成的光学物性测定装置,其特征在于:由凹面镜[1]和[2]安装在样品室[4]的一端,凹面镜[3]安装在样品室[4]另一端,凹面镜[1]、[2]经调整机构[5]与凹面镜[3]调成共焦结构,样品室[4]为一个可拆卸的封闭容器,是“通用型”或者是“放电激发型”的样品室。
公开号  85200312
公开日  1986-02-19
专利代理机构  中国科学院物理研究所专利办公室
代理人  高存秀
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期