搜索 分析 新世界 法规 图书 网址导航 更多
高级用户登录 | 登录 | |

超微试样超薄片的制备
无权-未缴年费

申请号:85105786 申请日:1985-07-30
摘要:本发明属于一种现代物理测试制样的新技术, 是采用电镀的方法镶嵌超微试样,然后进行两面磨 抛处理,制成的试样既薄又不损坏超微物体的组织 结构,适合于微米数量级且脆性大的样品制备。其制 成的样品薄片可以小于2000进行透射电镜测试时 图象清晰,为利用现代物理测试仪对超微物体的微 观分析研究提供了方便。
申请人: 北京钢铁学院
地址: 北京市海淀区学院路********(隐藏)
发明(设计)人: 方克明
主分类号: G01N1/06
分类号: G01N1/06
  • 法律状态
1992-11-25  
1987-09-30  授权
1987-03-18  审定
1987-01-28  公开
1986-07-16  
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种超微试样超薄片的制备方法,其特征在于用电镀的方法镶样, a)阴极电流密度范围是3-10mA/cm2。 b)镀液温度保持在10℃-18℃。 c)镀液成份为:四甲基氯化铵1-5%、三乙醇胺5-10%、丙三醇5-10%,余量为甲醇。
公开号  85105786A
公开日  1987-01-28
专利代理机构  北京钢铁学院专利代理事务所
代理人  杨玲莉
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期