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物体表面发射率测定和携带式测定仪
无权-视为撤回

申请号:85103721 申请日:1985-05-16
摘要:本发明用测定仪对同一物体表面采用换罩的方法进行两次测量,第一次测得信号值与第二次信号值之比即为被测热物体表面发射率.所使用的测定仪包括测量头和二次仪表两部分.测量头由主体筒、检测罩、热敏电阻和调试装置等组成.检测罩包括反射罩和吸收罩,二者均具有半圆球形内表面,外形尺寸完全相等.使用本发明可在工业现场直接测量各种热设备和热物体的表面发射率,对节约能源有重要意义.
申请人: 华中工学院
地址: 湖北省武汉武昌喻家山
发明(设计)人: 肖庆光 徐恕宏 叶林 樊瑞
主分类号: G01J5/58
分类号: G01J5/58
  • 法律状态
1988-07-06  
1987-05-13  
1986-11-12  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种测量物体表面发射率的方法,其特征为用测定仪对同一物体表面采用换罩的方法进行两次测量。第一次测量时测定仪的测量头检测罩为吸收罩,第二次测量时检测罩用反射罩, 被测物体表面发射率=第一次测量信号值/第二次测量信号值。
公开号  85103721
公开日  1986-11-12
专利代理机构  华中工学院专利事务所
代理人  方放 狄惟菁
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期