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一种基于相位编码的梯度匀场方法
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申请号:201610077694.8 申请日:2016-02-04
摘要:本发明公开了一种基于相位编码的梯度匀场方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)获取场图矩阵;(2)采集并计算当前磁场分布数据;(3)根据所述场图矩阵和当前场分布数据,采用Tikhonov规则化的奇异值分解法,得到各匀场线圈的电流改变量,并根据所述各匀场线圈的电流改变量重新配置匀场线圈电流;(4)根据步骤(3)中获得的各匀场线圈的电流改变量,计算相位残差:当相位残差满足收敛条件时结束,否则将各匀场线圈的电流修改后的磁场作为当前场,重复步骤(2)至(4)。实验证实,本发明与传统的梯度回波匀场方法相比,由于采用基于单点成像(Single?Point?Imaging)的纯相位编码采样方法,能明显的提高匀场效果。
申请人: 中国科学院武汉物理与数学研究所
地址: 430071 湖北省武汉市武昌区小洪山西30号
发明(设计)人: 刘造 鲍庆嘉
主分类号: G01R33/3875(2006.01)I
分类号: G01R33/3875(2006.01)I
  • 法律状态
2017-06-09  授权
2016-08-24  实质审查的生效IPC(主分类):G01R 33/3875申请日:20160204
2016-07-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种基于相位编码的梯度匀场方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)获取场图矩阵;(2)采集并计算当前磁场分布数据;(3)根据所述场图矩阵和当前场分布数据,采用Tikhonov规则化的奇异值分解法,得到各匀场线圈的电流改变量,并根据所述各匀场线圈的电流改变量重新配置匀场线圈电流;(4)根据步骤(3)中获得的各匀场线圈的电流改变量,计算相位残差:当相位残差满足收敛条件时结束,否则将各匀场线圈的电流修改后的磁场作为当前场,重复步骤(2)至(4)。
公开号  105807243A
公开日  2016-07-27
专利代理机构  武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224
代理人  胡星驰
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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