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一种用于放射性表面污染测量的可调式探头定位架
有权

申请号:201520023700.2 申请日:2015-01-14
摘要:本实用新型属于辐射测量技术领域,具体涉及一种用于放射性表面污染测量的可调式探头定位架,目的是提供一种能够保证探测器与被检测表面的距离符合相关技术规定要求,又能够有效防止仪器探头放射性污染风险的装置。其特征在于:它包括支架和探头安装垫片;其中,支架为双自由度、尺寸可调框架结构,探头安装垫片安装在支架的上端面。本实用新型采用双自由度、尺寸可调框架结构,采用合适高度的探头安装垫片,如针对α探测器,探头安装垫片高5mm;针对β探测器,探头安装垫片高10mm,有效控制了探头与被检测表面之间的距离,保证了探测器与被检测表面的距离符合相关技术规定要求,同时又能够有效防止仪器探头的放射性污染风险。
申请人: 中核核电运行管理有限公司 中国辐射防护研究院
地址: 314300 浙江省嘉兴市海盐县
发明(设计)人: 康云鼎 张涛革 熊扣红 张晶 李志华 俎安迪
主分类号: G01T1/167(2006.01)I
分类号: G01T1/167(2006.01)I
  • 法律状态
2015-08-26  授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种用于放射性表面污染测量的可调式探头定位架,其特征在于:它包括支架和探头安装垫片;其中,支架为双自由度、尺寸可调框架结构,探头安装垫片安装在支架的上端面。
公开号  204595222U
公开日  2015-08-26
专利代理机构  核工业专利中心 11007
代理人  王朋
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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