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波片光轴量测设备及量测方法
审中-实审

申请号:201510818800.9 申请日:2015-11-23
摘要:本发明提供一种波片光轴量测设备,包括光源、标准λ/4波片、依光传播方向依次层叠设置的第一载物台、可旋转载物台、第二载物台和光强测量仪器,所述第一载物台上固定有第一起偏件片,所述第二载物台上固定有第二起偏件,所述第一起偏件和所述第二起偏件相对设置,且所述第一起偏件的穿透轴和所述第二起偏件的穿透轴呈正交设置,所述可旋转载物台用于放置待测λ/4波片,所述标准λ/4波片可拆卸地放置在所述第一载物台和所述第二载物台两者之一上,所述标准λ/4波片介于所述第一起偏件和所述第二起偏件之间。通过本发明的设备可以确认待测λ/4波片的光轴。
申请人: 深圳市华星光电技术有限公司
地址: 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号
发明(设计)人: 海博
主分类号: G01M11/02(2006.01)I
分类号: G01M11/02(2006.01)I
  • 法律状态
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20151123
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种波片光轴量测设备,其特征在于,包括光源、标准λ/4波片、依光传播方向依次层叠设置的第一载物台、可旋转载物台、第二载物台和光强测量仪器,所述第一载物台上固定有第一起偏件片,所述第二载物台上固定有第二起偏件,所述第一起偏件和所述第二起偏件相对设置,且所述第一起偏件的穿透轴和所述第二起偏件的穿透轴呈正交设置,所述可旋转载物台用于放置待测λ/4波片,所述标准λ/4波片可拆卸地放置在所述第一载物台和所述第二载物台两者之一上,所述标准λ/4波片介于所述第一起偏件和所述第二起偏件之间。
公开号  105277341A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  广州三环专利代理有限公司 44202
代理人  郝传鑫 熊永强
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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