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暗室式安检设备以及方法
审中-实审

申请号:201510796132.4 申请日:2015-11-18
摘要:本发明提供一种暗室式安检设备和使用该安检设备进行检查的方法。暗室式安检设备包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件,壳体内部的部件包括:采样系统,采样系统包括传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置,其中X射线检测装置用于确定被检物体在到达采样系统内的相应位置,以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置;样品处理系统;其中,采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通。本发明的安检设备能够方便、快速、有效地取样和检测,不拆包,不破坏待检物品,适合于机场、海关等对违禁物品的快速筛查检测。
申请人: 清华大学 同方威视技术股份有限公司
地址: 100084 北京市海淀区清华园1号
发明(设计)人: 张清军 李元景 陈志强 赵自然 朱伟平 刘耀红 马秋峰 邹湘 何会绍 常建平 梁松
主分类号: G01N23/04(2006.01)I
分类号: G01N23/04(2006.01)I G01N30/88(2006.01)I G01N27/62(2006.01)I G01V11/00(2006.01)I
  • 法律状态
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20151118
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种暗室式安检设备,包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件,壳体内部的部件包括:采样系统,采样系统包括用以将被检物体从外界传送至样品采集装置内的传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置,其中X射线检测装置用于确定被检物体在采样系统内的位置,以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置;样品处理系统,用于浓缩样品和解析样品;和样品检测系统,通过气相色谱一离子迁移谱仪或单独的离子迁移谱仪检测样品成分;其中,采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通,使得被送入构成密闭的暗室的壳体内的被检物体在壳体内完成样品的采集、处理和检测。
公开号  105277577A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人  胡良均
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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