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电子设备的耗电测试方法及装置
审中-实审

申请号:201510781799.7 申请日:2015-11-13
摘要:本发明提出一种电子设备的耗电测试方法及装置。其中,该方法包括:获取电子设备的型号信息,确定与型号信息的电子设备所对应的待测电子设备的测试场景;根据测试场景确定对应的应用程序和测试时间,并将应用程序安装至待测电子设备;在待测电子设备中运行应用程序,并在测试时间达到之后记录待测电子设备的耗电情况。该实施例的电子设备的耗电测试方法,基于用户的使用场景对电子设备耗电进行测试,准确测试了电子设备的耗电情况,进而可准确为用户提供电子设备耗电情况。
申请人: 北京金山安全软件有限公司
地址: 100085 北京市海淀区小营西路33号二层东区
发明(设计)人: 关亮
主分类号: G01R31/00(2006.01)I
分类号: G01R31/00(2006.01)I G01R21/00(2006.01)I
  • 法律状态
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20151113
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种电子设备的耗电测试方法,其特征在于,包括以下步骤:获取所述电子设备的型号信息;确定与所述型号信息的电子设备所对应的待测电子设备的测试场景;根据所述测试场景确定对应的应用程序和测试时间,并将所述应用程序安装至所述待测电子设备;在所述待测电子设备中运行所述应用程序,并在测试时间达到之后记录所述待测电子设备的耗电情况。
公开号  105277830A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人  张大威
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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