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密码芯片的故障注入方法及装置
审中-实审

申请号:201510744689.3 申请日:2015-11-05
摘要:本发明提供了一种密码芯片的故障注入方法及装置,涉及密码芯片技术领域,方法包括从故障注入相关参数集合中随机选取多个故障注入相关参数粒子;根据各D维向量中的D个故障注入相关参数,对密码芯片进行故障注入;将各D维向量中的每一维故障注入相关参数以一速度参数进行更新;更新后,再次对密码芯片进行故障注入;并监测根据各D维向量对密码芯片进行故障注入所发生有效错误输出的频率;反复执行,直至当各D维向量中的第一D维向量所对应的频率大于等于一预设阈值时,将第一D维向量中的D个故障注入相关参数确定为优选故障注入相关参数。本发明避免了从参数集合中穷举出所需参数,效率低下且造成密码芯片检测缓慢的问题。
申请人: 工业和信息化部电信研究院
地址: 100191 北京市海淀区花园北路52号
发明(设计)人: 傅山 王宗岳 宁华 王艳红 杜云
主分类号: H04L9/00(2006.01)I
分类号: H04L9/00(2006.01)I
  • 法律状态
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):H04L 9/00申请日:20151105
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种密码芯片的故障注入方法,其特征在于,包括:步骤101、从故障注入相关参数集合中随机选取多个故障注入相关参数粒子;各所述故障注入相关参数粒子中具有D个故障注入相关参数,每个所述故障注入相关参数粒子中的D个故障注入相关参数构成D维向量;步骤102、根据各所述D维向量中的D个故障注入相关参数,对密码芯片进行故障注入;步骤103、将各所述D维向量中的每一维故障注入相关参数以一速度参数进行更新,生成更新后的D维向量;步骤104、根据各更新后的D维向量中的D个故障注入相关参数,对密码芯片进行故障注入;步骤105、监测根据各D维向量中的D个故障注入相关参数对密码芯片进行故障注入所发生有效错误输出的频率;反复执行步骤103至步骤105;步骤106、当各D维向量中的一第一D维向量所对应的频率大于等于一预设阈值时,停止对密码芯片进行故障注入,并将所述第一D维向量中的D个故障注入相关参数确定为优选故障注入相关参数;步骤107、根据所述优选故障注入相关参数对密码芯片进行故障注入,获取错误输出结果。
公开号  105281888A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人  王涛
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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