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一种基于二叉树算法的智能性能测试方法及系统
审中-实审

申请号:201510689259.6 申请日:2015-10-21
摘要:本发明公开一种基于二叉树算法的智能性能测试方法,包括:系统接受测试请求,确定所需测试区间、位移的颗粒度以及测试点,对测试点进行测试,判断测试是否成功,若不成功,生成两个第一子测试区间,若成功,形成两个第二子测试区间,如果各区间长度大于颗粒度,重复上述,否则记录测试饱和点,停止测试。智能性能测试系统,包括:接收测试请求模块,测试区间确定模块,颗粒度确定模块,测试点定位模块,测试模块,判断模块,上一步和下一步位移控制模块,比较模块、测试饱和点记录模块。本发明以二叉树结构作为测试点的定位路径,克服了手动控制的缺陷,提高了效率,更加快速准确的确定数量上下限,实现自动化。
申请人: 北京软件产品质量检测检验中心
地址: 100193 北京市海淀区中关村软件园3号楼A座1242-1256号房间
发明(设计)人: 周悦 郭振东 何泾沙 王威 潘铁 万雪姣 张伊璇
主分类号: H04L12/26(2006.01)I
分类号: H04L12/26(2006.01)I G06F11/36(2006.01)I
  • 法律状态
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):H04L 12/26申请日:20151021
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种基于二叉树算法的智能性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.测试系统接受测试请求;S2.确定所需测试区间、位移的颗粒度以及测试点;S3.对所述测试点进行测试,判断所述测试是否成功,若不成功,执行S41,若成功,则执行S42;S41.基于所述测试区间的上限值m、下限值n、位移颗粒度d,生成两个第一子测试区间,并自测试点q进行测试,检验其区间长度是否大于所述颗粒度,若大于返回S2,否则,执行S5;S42.基于测试区间的上限值m、下限值n,生成两个第二子测试区间,并自测试点q进行测试,检验其区间长度是否大于所述颗粒度,若大于返回S2,否则,执行S5;S5.记录测试饱和点,停止测试。
公开号  105281977A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  北京汇信合知识产权代理有限公司 11335
代理人  王秀丽
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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