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相位调制微波光链路噪声系数测量方法
审中-实审

申请号:201510672850.0 申请日:2015-10-15
摘要:本发明提供一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法,直接测量输出噪声功率谱密度,从而计算出噪声系数。本发明结构简单,测量准确率高。
申请人: 金陵科技学院
地址: 211169 江苏省南京市江宁区弘景大道99号
发明(设计)人: 叶全意 高英杰
主分类号: H04B10/079(2013.01)I
分类号: H04B10/079(2013.01)I H04B17/345(2015.01)I
  • 法律状态
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):H04B 10/079申请日:20151015
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种相位调制微波光链路噪声系数测量方法,其特征在于,直接测量输出噪声功率谱密度,从而计算出噪声系数。
公开号  105281830A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  南京钟山专利代理有限公司 32252
代理人  戴朝荣
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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