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用于测量波前像差的方法和波前像差测量设备
审中-实审

申请号:201510626614.5 申请日:2010-10-19
摘要:本发明公开了一种波像差测量方法,其中通过将从光源发射的光施加到所要测试的镜头上并且通过检测透射通过所要测试的镜头的光而以提高的测量准确度测量波像差。该方法包括在所要测试的镜头的光圈打开时测量波像差的步骤;在所要测试的镜头的光圈关闭时测量所要测试的镜头的光瞳的中心位置的步骤;和使用光瞳的中心位置作为原点利用多项式展开波像差的步骤。还公开了一种波像差测量设备。
申请人: 株式会社尼康
地址: 日本东京
发明(设计)人: 田中一政
主分类号: G01M11/02(2006.01)I
分类号: G01M11/02(2006.01)I
  • 法律状态
2016-02-17  实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20101019
2016-01-20  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种用于测量波前像差的方法,该波前像差通过检测从光源发出的、在被测镜头上入射并且透射通过所述被测镜头的光而被测量,所述方法包括以下步骤:在所述被测镜头的孔径光阑完全打开的状态中测量波前像差;在所述孔径光阑缩小的状态中测量所述被测镜头的光瞳的中心的位置;和通过使所述光瞳的中心的位置作为原点而利用多项式展开波前像差。
公开号  105258922A
公开日  2016-01-20
专利代理机构  中原信达知识产权代理有限责任公司 11219
代理人  鲁山 孙志湧
颁证日  
优先权  2009.10.20 JP 2009-240950;2009.10.20 JP 2009-240951
国际申请  
国际公布  
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