搜索 分析 新世界 法规 图书 网址导航 更多
高级用户登录 | 登录 | |

动态光散射测定装置和动态光散射测定方法
审中-实审

申请号:201510340652.4 申请日:2015-06-18
摘要:提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含:照射部:其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40);光谱强度取得部,其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光,取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度,所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上;以及测定部,其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。
申请人: 大塚电子株式会社 国立大学法人东京农工大学
地址: 日本大阪府
发明(设计)人: 泉谷悠介 岩井俊昭
主分类号: G01N21/25(2006.01)I
分类号: G01N21/25(2006.01)I
  • 法律状态
2017-06-13  实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/25申请日:20150618
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种动态光散射测定装置,包含:照射部,其将来自低相干光源的光照射到包含颗粒的试样;光谱强度取得部,其使来自参照面的反射光和透射过所述参照面的来自所述试样的散射光分光,取得所述反射光和所述散射光的干涉光的光谱强度,所述参照面配置于照射到所述试样的光的光路上;以及测定部,其基于取得的所述光谱强度来测定所述试样的动态光散射。
公开号  105277490A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  北京市隆安律师事务所 11323
代理人  徐谦
颁证日  
优先权  2014.06.20 JP 2014-127259
国际申请  
国际公布  
进入国家日期