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检测和防止光攻击的系统和方法
审中-实审
权利转移

申请号:201510325635.3 申请日:2015-06-12
摘要:本公开涉及检测和防止光攻击的系统和方法,说明了用于检测电子设备中的光故障注入和/或防止光故障注入在电子设备中引起可利用异常的各种系统和方法。这些各种系统和方法可以包括能够检测或防止激光注入攻击的系统和方法,其可以包括一个或多个小尺寸互补金属氧化物硅(CMOS)光检测电路,或者可以屏蔽一个或多个晶体管不受底面激光注入攻击的结构。
申请人: 美国博通公司
地址: 美国加利福尼亚州
发明(设计)人: 内森·欣德曼 马克·布尔
主分类号: H01L23/552(2006.01)I
分类号: H01L23/552(2006.01)I H01L27/092(2006.01)I
  • 法律状态
2017-04-05  专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L 23/552登记生效日:20170315变更事项:申请人变更前权利人:美国博通公司变更后权利人:安华高科技通用IP(新加坡)公司变更事项:地址变更前权利人:美国加利福尼亚州变更后权利人:新加坡新加坡市
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):H01L 23/552申请日:20150612
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种集成电路,形成在半导体衬底上,用于检测激光注入攻击,包括:第一扩散区,在所述半导体衬底中,所述第一扩散区形成第一晶体管的第一区;以及第二扩散区,在所述半导体衬底中,所述第二扩散区形成第二晶体管的第二区,其中,所述第一扩散区的大小不同于所述第二扩散区的大小,以使得在所述激光注入攻击期间,由所述第一扩散区接受或捐献的第一电荷不同于由所述第二扩散区捐献或接受的第二电荷。
公开号  105280618A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人  田喜庆
颁证日  
优先权  2014.06.12 US 62/011,176;2015.05.18 US 14/715,208
国际申请  
国际公布  
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