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一种杂散光测量装置和测量方法
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申请号:201510296052.2 申请日:2015-06-02
摘要:本发明公开了一种杂散光测量装置和测量方法,测量装置包括激光器、探测器,激光器有测试波段和定位波段两个波段光,两波段光共口径同方向出射,激光器测量波段和探测器响应波段位于待测光学系统的关注波段范围内,探测器覆盖激光器的测量波段。测量时,首先对光学系统入口进行分区,调整激光器出射光束相对光学系统光轴方向的夹角,并利用置于光学系统像平面的探测器,探测开启状态下的激光器出射光束到达像平面的光能量,完成该孔径位置、该离轴角条件下,杂散光的影响程度的测量,通过孔径积分获得该离轴角条件下杂散光影响程度。本发明的优点在于原理简单,通用各种尺寸口径的光学系统,且可以直观定位杂散光一次散射位置路径。
申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
地址: 200083 上海市虹口区玉田路500号
发明(设计)人: 于清华 孙胜利
主分类号: G01M11/00(2006.01)I
分类号: G01M11/00(2006.01)I
  • 法律状态
2017-06-27  授权
2015-09-23  实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/00申请日:20150602
2015-08-26  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种杂散光测量装置,包括激光器和探测器,其特征在于:所述的激光器包括激光器头部、调整架两大部分,激光头部有测试波段和定位波段两个波段激光,两波段的激光共口径同方向出射,当测试波段为可见波段时,激光器的测试波段和定位波段为同一波段,所述的调整架具有两维平动和两维俯仰,共四维调节和锁定功能。
公开号  104865048A
公开日  2015-08-26
专利代理机构  上海新天专利代理有限公司 31213
代理人  郭英
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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