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用于测量和检测电气放电的装置、方法和系统
审中-实审

申请号:201480027899.4 申请日:2014-03-13
摘要:本发明涉及用于检测和可选地测量具有放电幅值的电气放电的装置、方法和系统,其中所述电气放电导致对应的光学辐射的放射。所述装置实施根据本发明的系统和方法,其中方法包括通过以下步骤测量电气放电:首先存储包括与电气放电的幅值和对应于该幅值的检测器参数相关联的预定的校准数据,检测器参数是与光学检测器相关联的操作参数,接收特定检测器参数并用所存储的校准数据来处理特定检测器参数以检测电气放电,以及确定与所检测到的电气放电的幅值相关联的定量测量。
申请人: CSIR公司
地址: 南非豪登省
发明(设计)人: G·R·施托尔珀 R·A·舒茨
主分类号: G01J1/42(2006.01)I
分类号: G01J1/42(2006.01)I G01R31/12(2006.01)I G01J1/02(2006.01)I G01J5/00(2006.01)I
  • 法律状态
2016-04-06  实质审查的生效IPC(主分类):G01J 1/42申请日:20140313
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种用于检测和测量具有放电幅值的电气放电的设备,其中所述电气放电导致对应的光学辐射的放射,所述设备包括:光学接收器装置,所述光学接收器装置被配置成接收来自包括潜在的电气放电的源的场景的光学辐射;第一图像形成装置,所述第一图像形成装置被配置成基于所述光学接收器装置所接收的光学辐射来形成图像;测量系统,包括:光学地耦合到所述光学接收器装置的光学检测器,所述光学检测器用于接收和处理来自所述光学接收器装置的光学辐射以生成检测器输出;存储器设备,所述存储器设备存储预定的校准数据,所述校准数据包括与电气放电的幅值相关联的经校准的定量测量值以及与所述经校准的定量测量值对应的检测器参数,所述检测器参数是与所述光学检测器相关联的操作参数;以及定量测量模块,所述定量测量模块被配置成接收特定检测器参数并用所存储的校准数据来处理所述特定检测器参数以检测电气放电,并且确定与检测到的电气放电的幅值相关联的定量测量;显示设备,用于显示所述第一图像形成装置所形成的图像;以及图像处理器,所述图像处理器被配置成将所确定的定量测量叠放在所述显示设备所显示的图像上。
公开号  105283741A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人  蔡悦
颁证日  
优先权  2013.03.13 ZA 2013/01905
国际申请  2014-03-13 PCT/IB2014/059714
国际公布  2014-09-18 WO2014/141116 EN
进入国家日期  2015.11.13