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分析离子结构的方法
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申请号:201480001235.0 申请日:2014-09-05
摘要:本发明涉及一种分析离子结构的方法,包括以下步骤:囚禁、激发离子:向一离子质量分析器施加具有高阶成分的射频电场、辅助交流电场或施加一宽频激发电场使样品离子被激发到一运动幅度,但不超过离子质量分析器的囚禁能力,此时运动幅度记为初始运动幅度,此时刻记为第一时刻;向离子质量分析器持续通入载气,并使离子质量分析器中保持一定真空度,样品离子与载气发生碰撞,运动幅度逐渐减小,直到第二时刻,采集从第一时刻到第二时刻过程中样品离子产生的镜像电流的时域信号;信号处理:通过时频分析方法对时域信号进行分析,获得包含有相应尺寸的离子的运动频率与该离子与载气的碰撞截面积的对应关系的时变特征曲线,从而区别出不同尺寸的离子。
申请人: 北京理工大学
地址: 100081 北京市海淀区中关村南大街5号
发明(设计)人: 徐伟 贺木易 方向
主分类号: H01J49/34(2006.01)I
分类号: H01J49/34(2006.01)I G01N27/68(2006.01)I
  • 法律状态
2017-08-25  授权
2016-07-27  实质审查的生效IPC(主分类):H01J 49/34申请日:20140905
2016-06-29  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  PCT国内申请,权利要求书已公开。
公开号  105723495A
公开日  2016-06-29
专利代理机构  北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人  阚梓瑄 路兆强
颁证日  
优先权  
国际申请  2014-09-05 PCT/CN2014/086049
国际公布  2016-03-10 WO2016/033807 ZH
进入国家日期  2014.11.14