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一种检测抗磁性的设备
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申请号:201410334115.4 申请日:2014-07-14
摘要:本发明公开了一种检测抗磁性的设备,该设备包括承载被检测设备的检测台,测量被检测设备的抗磁角度的第一角度刻度盘,测量被检测设备的抗磁性和抗磁距离的检测头,为所述检测台提供支撑的支架;所述第一角度刻度盘为圆环形,在所述第一角度刻度盘的圆环上设置有可在所述圆环上滑动的检测头;所述检测台的两端沿着所述第一角度刻度盘的直径方向穿过所述第一角度刻度盘的圆环后分别与所述支架连接。
申请人: 国家电网公司 北京南瑞智芯微电子科技有限公司
地址: 100031 北京市西城区西长安街86号
发明(设计)人: 刘全春 周红峰 郭增桥 王新蕾
主分类号: G01R31/00(2006.01)I
分类号: G01R31/00(2006.01)I
  • 法律状态
2017-11-21  授权
2016-02-24  实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20140714
2016-01-27  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种检测抗磁性的设备,其特征在于,包括:承载被检测设备的检测台,测量被检测设备的抗磁角度的第一角度刻度盘,测量被检测设备的抗磁性和抗磁距离的检测头,为所述检测台提供支撑的支架;所述第一角度刻度盘为圆环形,在所述第一角度刻度盘的圆环上设置有可在所述圆环上滑动的检测头;所述检测台的两端沿着所述第一角度刻度盘的直径方向穿过所述第一角度刻度盘的圆环后分别与所述支架连接。
公开号  105277815A
公开日  2016-01-27
专利代理机构  北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279
代理人  郭振兴 王正茂
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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