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基于波像差的光学系统各光学件面形的检测方法
无权-视为撤回

申请号:201310294761.8 申请日:2013-07-15
摘要:本发明是一种基于波像差的光学系统各光学件面形的检测方法,包括步骤S1:将光学系统各元件进行粗装调,使光学系统波像差能被波像差检测装置有效检测;步骤S2:对各光学元件的空间位置进行调整,测量各位置状态下光学系统的波像差,并记录;步骤S3:将记录的光学元件位置状态及对应的光学系统波像差输入处理器,计算各光学元件的面形。本发明通过检测光学系统的波像差,来确定光学系统中各光学件的面形,装配阶段通过最终测量的光学系统波像差,获得光学系统各光学件的面形数据,可用于消除面形误差产生的系统波像差。适用于面形数据不能准确测量的光学系统,避免面形数据检测误差造成后续装调过程中的不当操作,提高光学系统的成像质量。
申请人: 中国科学院光电技术研究所
地址: 610209 四川省成都市双流350信箱
发明(设计)人: 李恋 马天梦 王彬 古斌
主分类号: G01B11/24(2006.01)I
分类号: G01B11/24(2006.01)I
  • 法律状态
2016-06-08  发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G01B 11/24申请公布日:20130925
2013-10-30  实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/24申请日:20130715
2013-09-25  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种基于波像差的光学系统各光学件面形的检测方法,其特征在于:所述光学系统各光学件面形检测步骤如下:步骤S1:将光学系统各光学元件进行粗装调,使光学系统波像差能被波像差检测装置有效检测;步骤S2:对各光学元件的空间位置进行调整,测量各位置状态下光学系统的波像差,同时记录光学元件的位置状态以及该状态下的光学系统波像差;步骤S3:将记录的光学元件位置状态及该状态下对应的光学系统波像差输入处理器,计算各光学元件的面形。
公开号  103322942A
公开日  2013-09-25
专利代理机构  中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人  梁爱荣
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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