搜索 分析 新世界 法规 图书 网址导航 更多
高级用户登录 | 登录 | |

玻璃配合料均匀度的测定方法
无权-驳回

申请号:201310241519.4 申请日:2013-06-18
摘要:本发明公开了玻璃配合料均匀度的测定方法,包括以下步骤:(1)制样:将玻璃配合料样品和玻璃配合料标准样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料样片与玻璃配合料标准样片;(2)制作标准曲线:采用所述玻璃配合料标准样片制作各元素或各氧化物对应的标准曲线;(3)测定玻璃配合料样品中的成分:用X射线荧光光谱仪测量玻璃配合料样片中各元素的荧光X射线强度,并根据各元素或各氧化物对应的标准曲线计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量;(4)根据计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量,利用以下公式计算玻璃配合料的均匀度:由上述公式计算出每种组分的相对离差E、平均离差,该玻璃配合料的均匀度=100%-。
申请人: 芜湖东旭光电科技有限公司
地址: 241000 安徽省芜湖市经济技术开发区万春街道纬二次路36号
发明(设计)人: 孙景晓 李兆廷 李震 施敖荣 魏文生 刘成斌
主分类号: G01N23/223(2006.01)I
分类号: G01N23/223(2006.01)I G01N1/28(2006.01)I
  • 法律状态
2018-03-27  发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G01N 23/223申请公布日:20130925
2013-10-30  实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/223申请日:20130618
2013-09-25  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  玻璃配合料均匀度的测定方法,包括以下步骤:(1)制样:将从配料生产线上所取的玻璃配合料样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料样片;按照玻璃料方配制玻璃配合料标准样品,将所述玻璃配合料标准样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料标准样片;(2)制作标准曲线:采用所述玻璃配合料标准样片制作各元素或各氧化物对应的标准曲线;(3)测定玻璃配合料样品中的成分:用X射线荧光光谱仪测量所述玻璃配合料样片中各元素的荧光X射线强度,并根据各元素或各氧化物对应的标准曲线计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量;(4)根据计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量,利用以下公式计算玻璃配合料的均匀度:上式中:H为均匀度,E为相对离差,S为均方差,为平均值,n为试样只数,xi为第i个试样某组分的测定值;由上述公式计算出各元素或各氧化物的相对离差E、平均离差,该玻璃配合料的均匀度=100%‑。39074dest_path_image001.jpg,873038dest_path_image002.jpg,823677dest_path_image003.jpg,768499dest_path_image004.jpg,183300dest_path_image005.jpg,125848dest_path_image006.jpg,626099dest_path_image007.jpg,111963dest_path_image008.jpg
公开号  103323479A
公开日  2013-09-25
专利代理机构  
代理人  
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期