搜索 分析 新世界 法规 图书 网址导航 更多
高级用户登录 | 登录 | |

一种固体材料密度测量方法
无权-视为撤回

申请号:201310236915.8 申请日:2013-06-17
摘要:本发明涉及一种固体材料密度测量方法,主要应用于大、中专院校实验教学,该方法包括如下步骤:用电子天平测出待测固体材料样品的质量m3,将盛有密度为ρ0的水的容器置于电子天平上,将样品专用容器浸没于水中,但不与盛水的容器相接触,电子天平读数为m2,再将待测固体材料样品置于样品专用容器中,并与样品专用容器一起浸没于水中,但不与容器相接触,测出此时的电子天平读数m4,由求得待测样品的密度,此方法简单、方便、快速、测量精度高,且适用于不同密度、不同形状的固体材料样品。
申请人: 湖南工业大学
地址: 412007 湖南省株洲市天元区********(隐藏)
发明(设计)人: 陈光伟 文景 王国友 文宽逸 文广为
主分类号: G01N9/08(2006.01)I
分类号: G01N9/08(2006.01)I
  • 法律状态
2018-06-05  发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G01N 9/08申请公布日:20130925
2016-04-06  实质审查的生效IPC(主分类):G01N 9/08申请日:20130617
2013-09-25  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种固体材料密度测量方法,其特征是采用如下步骤:用电子天平测出待测固体材料样品的质量m3,将盛有密度为ρ0的水的容器置于电子天平上,将样品专用容器浸没于水中,但不与盛水的容器相接触,电子天平读数为m2,再将待测固体材料样品置于样品专用容器中,并与样品专用容器一起浸没于水中,但不与容器相接触,测出此时的电子天平读数m4,由                                                求得待测固体材料样品的密度。2013102369158100001dest_path_image001.jpg
公开号  103323368A
公开日  2013-09-25
专利代理机构  
代理人  
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期