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一种用于LED芯片及器件的检测装置与方法
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申请号:201310225665.8 申请日:2013-06-07
摘要:本发明公开了一种用于LED芯片及器件的检测装置及方法,所述装置包括蓝膜或器件基板装夹夹具,环状阵列测试电极,电源与电参数采集系统。环状阵列测试电极外形为滚筒状,具有多组正负测试探针,检测时,通过同步带轮带动本发明提出的检测装置,并使正负测试探针刚好接触待测LED芯片或器件正负电极,通过电源依次对正在接触基板的一列探针通入扫描电流,同时采集其电参数,完成后同步带轮带动装置滚动至相邻下一列探针,对下一列LED芯片或器件进行测试。本发明所提技术方法效率极高,相比传统检测方法检测效率可提高6-10倍,应用于LED产业会大大提高LED产品检测效率,减少设备损耗,提升产品成本竞争优势具有良好的产业化应用前景。
申请人: 华南理工大学
地址: 510640 广东省广州市天河区五山路381号
发明(设计)人: 余彬海 汤勇 丁鑫锐 李宇吉 朱本明 李宗涛
主分类号: G01R31/26(2006.01)I
分类号: G01R31/26(2006.01)I
  • 法律状态
2016-03-02  授权
2013-10-30  实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20130607
2013-09-25  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种用于LED芯片及器件的检测装置,其特征在于:包括方框形蓝膜或器件基板装夹夹具(1)、位于蓝膜或器件基板装夹夹具(1)下方的可转动或滚动的环状阵列测试电极辊(2)、电源与电参数采集系统(3),所述环状阵列测试电极辊(2)包括以工程塑料或电木为材料的空心圆柱状基体(21),该空心圆柱状基体(21)的侧面沿轴向及周向均匀设置有环状阵列通孔,每个环状阵列通孔内均向外延伸地设置有一根可弹性伸缩的金属测试电极,所述金属测试电极包括正极金属测试电极(22)和负极金属测试电极(23),沿空心圆柱状基体(21)轴向设置的每一列环状阵列通孔均匀间隔设置,各个正极金属测试电极(22)和负极金属测试电极(23)同电源与电参数采集系统(3)电路连接,所述空心圆柱状基体(21)一端还设置有由步进电机驱动的同步带轮(24)。
公开号  103323762A
公开日  2013-09-25
专利代理机构  广州粤高专利商标代理有限公司 44102
代理人  何淑珍
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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