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一种全反射X射线荧光光谱仪
无权-未缴年费

申请号:201310190082.6 申请日:2013-05-21
摘要:本发明提出了一种全反射X射线荧光光谱仪,包括:样品室,其包括用于盛放样品的样品台、样品定位装置和用于探测所述样品受X射线照射时产生的荧光的探测器;X射线管发生装置,用于发射X射线照射至所述样品,所述X射线入射至所述样品的入射角<0.1°;单色器装置,用于将所述X射线形成单色光;控制装置,用于接收所述探测器探测到的所述样品产生的荧光和分析所述样品中的元素及含量。本发明提出的一种全反射X荧光光谱仪,其以小于0.1°的角掠入射,整形成条状的原级束被全反射,用于微量样品和痕量元素化学分析。
申请人: 杨东华
地址: 341600 江西省赣州市信丰县嘉定镇老屋里村杨屋43号
发明(设计)人: 杨东华
主分类号: G01N23/223(2006.01)I
分类号: G01N23/223(2006.01)I
  • 法律状态
2017-07-14  未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/223申请日:20130521授权公告日:20150729终止日期:20160521
2015-07-29  授权
2013-10-30  实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/223申请日:20130521
2013-09-25  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种全反射X射线荧光光谱仪,其特征在于,包括:样品室:包括用于盛放样品的样品台、样品定位装置和用于探测所述样品受X射线照射时产生的荧光的探测器;X射线管发生装置:用于发射X射线照射至所述样品,所述X射线入射至所述样品的入射角<0.1°;单色器装置:用于将所述X射线形成单色光;控制装置:用于接收所述探测器探测到的所述样品产生的荧光和分析所述样品中的元素及含量。
公开号  103323478A
公开日  2013-09-25
专利代理机构  北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411
代理人  郑自群
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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