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光学量测系统及承载结构与光学量测方法
有权
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申请号:201210149259.3 申请日:2012-05-15
摘要:本发明提供一种光学量测系统及承载结构与光学量测方法,其中该光学量测系统,包括光检测模块及信号整合单元。光检测模块针对多个发光区在多个不同的检测位置分别检测至少部分这些发光区的光强度,以得到分别对应于这些检测位置的多个光强度信号。信号整合单元整合这些光强度信号,以得到与这些发光区相关的整体光强度评估值。
申请人: 台湾超微光学股份有限公司
地址: 中国台湾新竹市关新路27号9F之2
发明(设计)人: 洪健翔 叶展良
主分类号: G01J1/00(2006.01)I
分类号: G01J1/00(2006.01)I G01J1/04(2006.01)I
  • 法律状态
2016-04-27  授权
2013-10-30  实质审查的生效IPC(主分类):G01J 1/00申请日:20120515
2013-09-25  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  一种光学量测系统,其特征在于,包括:光检测模块,针对多个发光区,在多个不同的检测位置分别检测至少部分该多个发光区的光强度,以得到分别对应于该多个检测位置的多个光强度信号;以及信号整合单元,整合该多个光强度信号,以得到与该多个发光区相关的整体光强度评估值。
公开号  103323104A
公开日  2013-09-25
专利代理机构  北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人  臧建明
颁证日  
优先权  2012.03.23 TW 101110220
国际申请  
国际公布  
进入国家日期