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一种二维电磁探头及旋磁检测方法
无权-未缴年费

申请号:200910183574.6 申请日:2009-09-23
摘要:本发明为一种用于金属材料无损检测和评估的二维电磁探头及旋磁检测方法。该电磁探头包括探头体1、探测线圈2、探测线圈3、接线端口4。其特征在于每组探测线圈均包括一对励磁线圈和一对检测线圈,合理调整各组线圈的励磁电流,可以为二维旋磁检测提供大小恒定的平面旋转磁场。旋磁检测得到的结果经处理可生成与被检工件相似的类似形,材质异常表现为类似形上明显的外凸或凹陷,使金属材料的材质分布特征一目了然,从而帮助检测人员对被检工件的质量进行快速评估。本发明不仅能够用于成分、机械性能和组织均匀性的检测和评估,而且能够对裂纹等组织异常进行预警。
申请人: 帅立国
地址: 210046江苏省南京市南京甘家边东108号金港科技创业中心韦嘉转
发明(设计)人: 帅立国
主分类号: G01N27/72(2006.01)I
分类号: G01N27/72(2006.01)I G01N27/90(2006.01)I
  • 法律状态
2015-11-11  未缴年费专利权终止IPC(主分类):G01N 27/72申请日:20090923授权公告日:20111221终止日期:20140923
2011-12-21  授权
2010-04-28  实质审查的生效IPC(主分类):G01N 27/72申请日:20090923
2010-03-10  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种二维电磁探头即旋磁检测方法,其特征在于电磁探头包括探头体1、 探测线圈2、探测线圈3、接线端口4。其中,探测线圈2和探测线圈3为镶嵌 于探头体1内部,且探测线圈2位于探头体1的上方,探测线圈3位于探头体1 的侧边,接线端口4位于探头体1的侧下方。探测线圈2和探测线圈3相互垂直 并相交于一点。探测线圈2和探测线圈3中各包括一对励磁线圈和一对检测线圈。
公开号  101666778
公开日  2010-03-10
专利代理机构  
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颁证日  
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