搜索 分析 新世界 法规 图书 网址导航 更多
高级用户登录 | 登录 | |

一种LED发光特性的非接触检测方法及装置
无权-驳回

申请号:200910103968.6 申请日:2009-05-27
摘要:本发明公开了一种LED发光特性的非接触检测方法:在恒温条件下,以短时脉冲光照射LED待测件的PN结区域,通过检测PN结的自发光光谱来实现对LED待测件发光特性的检测;本发明还公开了基于前述方法的LED发光特性的非接触检测装置;本发明的有益技术效果是:可以在不接触待测器件的情况下对LED外延片、晶片或者单个LED芯片的发光特性进行检测,避免对LED待测件的接触损坏,把LED产品的检测和筛选由“成品”环节推进到“芯片”乃至外延片环节,降低了LED的成本。
申请人: 重庆大学
地址: 400044重庆市********(隐藏)
发明(设计)人: 李平 文玉梅 李恋 文静
主分类号: G01R31/265(2006.01)I
分类号: G01R31/265(2006.01)I G01M11/02(2006.01)I
  • 法律状态
2012-04-18  发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G01R 31/265公开日:20091021
2009-12-16  实质审查的生效
2009-10-21  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种LED发光特性的非接触检测方法,其特征在于:在恒温条件下,以短时脉冲光照 射LED待测件的PN结区域,通过检测PN结的自发光光谱来实现对LED待测件发光特性的检 测。
公开号  101561475A
公开日  2009-10-21
专利代理机构  重庆市恒信知识产权代理有限公司
代理人  侯懋琪
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
进入国家日期