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光学拾取器和光学信息处理设备
有权
阅读授权文献

申请号:200880013361.2 申请日:2008-04-15
摘要:本发明公开了一种光学拾取器,包括具有移相器表面的像差校正单元。在移相器表面上,矩形或楼梯状台阶围绕光轴中心以同心方式形成在光束穿过的特定区域内。该台阶在光轴方向上具有不同高度。波长405NM的光束直接透射过台阶,使得施加相位差用来校正在第一光学记录介质上发生的球面像差。穿过没有台阶的环形区域的光束聚焦在第二光学记录介质上。穿过外侧区域的光束被物镜聚焦在第二光学记录介质上,并且不聚焦在第一光学记录介质上。
申请人: 株式会社理光
地址: 日本东京都
发明(设计)人: 浜野由纪子 平井秀明 名须川利通 梅木和博
主分类号: G11B7/135(2006.01)I
分类号: G11B7/135(2006.01)I
  • 法律状态
2011-06-15  授权
2010-04-28  实质审查的生效IPC(主分类):G11B 7/135申请日:20080415
2010-03-10  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种光学拾取器,用于对至少两种类型的光学信息记录介质执行信 息的记录、再现和擦除中的至少一种,所述光学拾取器包括: 光学聚焦系统,该光学聚焦系统被构造成将来自光源的光束通过具有 第一厚度t1的第一衬底利用第一数值孔径NA1聚焦到第一光学信息记录 介质的第一记录层上,以及通过具有不同于第一厚度t1的第二厚度t2的 第二衬底利用第二数值孔径NA2聚焦到第二光学信息记录介质的第二记录 层上,其中: 所述光学聚焦系统包括: 物镜,该物镜被设计成将光束聚焦到第一光学信息记录介质的第一记 录层上;以及 像差校正单元,该像差校正单元包括至少一个移相器表面,该移相器 表面根据具有不规则形状的台阶以同心方式被分成多个区域,所述具有不 规则形状的台阶在光轴方向上具有不同的高度,该移相器表面被构造成向 来自光源的光束施加相位差; 所述多个区域包括包含光轴的中心区域、从第一数值孔径NA1的位 置到第二数值孔径NA2的位置的外侧环形区域;以及在所述包含光轴的中 心区域和所述外侧环形区域之间的中间环形区域; 所述中心区域、外侧环形区域和中间环形区域的相位差相对于光束的 波长是2π的整数倍; 具有不规则形状的台阶形成在所述中心区域和所述中间环形区域之间 的第一环形区域和所述中间环形区域和所述外侧环形区域之间的第二环形 区域内;以及 所述台阶形成为减小由第一衬底的第一厚度t1和第二衬底的第二厚度 t2之间的差所造成的像差。
公开号  101669172
公开日  2010-03-10
专利代理机构  北京市柳沈律师事务所
代理人  王冉
颁证日  
优先权  2007.4.26 JP 116376/2007;2007.11.2 JP 286017/2007
国际申请  2008-04-15 PCT/JP2008/057783
国际公布  2008-11-13 WO2008/136315 英
进入国家日期  2009.10.23