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放射线照相术测定装置及放射线照相术测定方法
无权-驳回

申请号:200880013214.5 申请日:2008-04-24
摘要:本发明在入射窗(20)的铝基板(200)的内侧直接涂覆了中子反应体层(220)。在该中子反应体层(220)的内侧形成第一闪烁器层(201),在第一闪烁器层(201)的内侧形成光电转换层(202)。中子反应体层(220)由浓缩碳化硼(10B4C)构成,利用浓缩硼的(N,Α)反应,从中子产生Α射线。然后,用该Α射线使第一闪烁器层(201)发光。
申请人: 株式会社东芝
地址: 日本东京都
发明(设计)人: 日塔光一 角川清春 小长井主税
主分类号: G01T3/06(2006.01)I
分类号: G01T3/06(2006.01)I G01T1/29(2006.01)I H01J31/50(2006.01)I
  • 法律状态
2016-06-08  发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G01T 3/06申请公布日:20100310
2010-04-28  实质审查的生效IPC(主分类):G01T 3/06申请日:20080424
2010-03-10  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1、一种放射线照相术测定装置,其特征在于,具有: 中子反应体层,形成在放射线的入射窗中; 针状的第一闪烁器层,形成在上述中子反应体层的上面,利用由上述中 子反应体层与中子的反应所放出的α射线或电子射线进行发光; 光电转换层,形成在上述第一闪烁器层的上面; 电子透镜,对从上述光电转换层放出的电子进行加速; 第二闪烁器层,利用已被上述电子透镜加速的电子进行发光;以及 摄像机,对上述第二闪烁器层的发光进行摄像。
公开号  101669042
公开日  2010-03-10
专利代理机构  永新专利商标代理有限公司
代理人  许玉顺 胡建新
颁证日  
优先权  2007.4.24 JP 114394/2007
国际申请  2008-04-24 PCT/JP2008/001079
国际公布  2008-11-06 WO2008/132849 日
进入国家日期  2009.10.23