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定量化薄层地层的电阻率和含烃饱和度的方法
无权-未缴年费

申请号:200810210273.3 申请日:2008-08-11
摘要:一种估算层状地下地层中烃体积的方法,包括测定地层中的垂直电阻率和水平电阻率。测定地层各层的束缚水饱和度和总孔隙度。根据各层的束缚水饱和度和总孔隙度以及各层的估算的束缚水总体积,计算地层的水平电阻率值和垂直电阻率值。将这些估算值与测定的水平电阻率和垂直电阻率进行比较。调整各层中所估算的束缚水饱和度并反复估算该值,直到估算值与测定的垂直电阻率和水平电阻率值之间的差值降到所选的阈值以下。由各层经调整的束缚水饱和度估算烃体积。
申请人: 普拉德研究及开发股份有限公司
地址: 英属维尔京群岛多多********(隐藏)
发明(设计)人: 戴维·F·艾伦 格奥吉·博达科夫
主分类号: E21B49/00(2006.01)I
分类号: E21B49/00(2006.01)I
  • 法律状态
2018-08-28  未缴年费专利权终止IPC(主分类):E21B 49/00申请日:20080811授权公告日:20131106终止日期:20170811
2013-11-06  授权
2010-09-22  实质审查的生效IPC(主分类):E21B 49/00申请日:20080811
2009-02-11  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种估算层状地下地层中烃体积的方法,包括: 测定地层中的垂直电阻率和水平电阻率; 测定地层各层的束缚水饱和度和总孔隙度; 根据各层的束缚水饱和度和总孔隙度以及各层中估算的束缚水总体积, 估算地层的水平电阻率值和垂直电阻率值; 将这些估算值和测定的水平电阻率和垂直电阻率进行比较; 调整各层中所估算的束缚水饱和度并反复估算该值,直到估算值与测定 的垂直电阻率和水平电阻率之间的差值降到所选的阈值以下;及 由各层经调整的束缚水饱和度估算烃体积。
公开号  101363315A
公开日  2009-02-11
专利代理机构  北京市柳沈律师事务所
代理人  封新琴
颁证日  
优先权  2007.8.9 US 11/836,269
国际申请  
国际公布  
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