摘要:一种半导体器件,包括具有凹陷栅极的晶体管,其中在多个沟槽中形成接触塞,该多个沟槽通过对半导体衬底开槽而形成。而且,金属线和源极/漏极区可以通过该接触塞连接,使得导通电流可以增加得如沟道面积所增加的一样多。 | |
Abstract: A semiconductor device includes a transistor having a recessed gate, contact plugs formed in a region of a plurality of trenches, which are formed by recessing a semiconductor substrate. Further, a metal line and a source/drain region can be connected through the contact plug, so that on-current can be increased as much as an increased channel area. | |
申请人: 海力士半导体有限公司 | |
Applicant: HYNIX SEMICONDUCTOR INC | |
地址: 韩国京畿道利川市 | |
发明(设计)人: 金大植 | |
Inventor: SIK KIM DAE | |
主分类号: H01L21/8234(2006.01)I | |
分类号: H01L21/8234(2006.01)I H01L21/8242(2006.01)I H01L21/768(2006.01)I H01L27/088(2006.01)I H01L27/108(2006.01)I H01L23/522(2006.01)I | |
2015-05-20 | 未缴年费专利权终止IPC(主分类):H01L 21/8234申请日:20080403授权公告日:20101013终止日期:20140403 |
2010-10-13 | 授权 |
2009-02-25 | 实质审查的生效 |
2008-12-31 | 公开 |
主权项 | 一种制造半导体器件的方法,该方法包括以下步骤:在半导体衬底的有源区中沿一个方向形成多个沟槽;在包括所述沟槽的半导体衬底上形成与所述沟槽交叉的凹陷栅极;在所述凹陷栅极两侧的包括所述沟槽的半导体衬底中形成源极/漏极区;在包括所述凹陷栅极的半导体衬底上方形成层间绝缘层;蚀刻所述层间绝缘层以形成接触孔,通过所述接触孔在所述凹陷栅极两侧暴露出沟槽底部的源极/漏极区和所述半导体衬底中的源极/漏极区;形成填充所述接触孔的接触塞;和形成连接至所述接触塞且平行于所述凹陷栅极的金属线。 | ||||||||||||||||||
公开号 | 101335240B | ||||||||||||||||||
公开日 | 2010-10-13 | ||||||||||||||||||
专利代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | ||||||||||||||||||
代理人 | 刘继富 顾晋伟 | ||||||||||||||||||
颁证日 | |||||||||||||||||||
优先权 | 2007.06.28 KR 10-2007-0064473
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国际申请 | |||||||||||||||||||
国际公布 | |||||||||||||||||||
进入国家日期 |
类型 | 阶段 | 文献号 | 公开日期 | 涉及权利要求项 | 相关页数 |
类型 | 阶段 | 期刊文摘名称 | 作者 | 标题 | 涉及权利要求项 | 相关页数 |
类型 | 阶段 | 书名 | 作者 | 标题 | 涉及权利要求项 | 相关页数 |