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检测装置的扫描头结构及其检测方法
无权-视为撤回

申请号:200810042546.8 申请日:2008-09-05
摘要:本发明涉及一种检测装置的扫描头结构及其检测方法,藉由将多个CCD阵列以不同高度设置于扫描头内,可在同一次扫描作动期间分别撷取多个独立的检测物影像以获得最佳检测影像进行影像比对,从而有效增加影像比对的精确性。本发明将多个CCD阵列以不同高度设置于扫描头内,使各个CCD聚焦范围不同故可以提高整体景深。
申请人: 上海中晶科技有限公司
地址: 200233上海市漕河泾开发区桂平路680号35号楼
发明(设计)人: 吴金来 杨智光
主分类号: G01B11/00(2006.01)I
分类号: G01B11/00(2006.01)I
  • 法律状态
2012-03-14  发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G01B 11/00公开日:20100310
2010-04-28  实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20080905
2010-03-10  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种检测装置的扫描头结构,包含: 一基座; 第一线性光感测阵列;以及 第二线性光感测阵列,其中 该第一线性光感测阵列与该第二线性光感测阵列以不同高度并列设置于该基 座内; 该第一线性光感测阵列的焦距为其与一待测物的第一特征部的垂直距离;以 及 该第二线性光感测阵列的焦距为其与该待测物的第二特征部的垂直距离。
公开号  101666615
公开日  2010-03-10
专利代理机构  上海专利商标事务所有限公司
代理人  陈亮
颁证日  
优先权  
国际申请  
国际公布  
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