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用于探测吸收性物品内出现多次污损的方法及设备
有权
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申请号:200780051395.6 申请日:2007-11-14
摘要:本发明公开了一种探测吸收性物品中出现污损的方法。测量该物品的电性质并将其数字化。为了探测到污损,通过微处理器运用这些数字值来确定以下至少其中之一:(A)该电性质与一阈值相比较的斜率;(B)在一段时间内该电性质与一阈值的比较;和/或(C)该电性质与一确定阈值的比较。
申请人: 金伯利-克拉克环球有限公司
地址: 美国威斯康星州
发明(设计)人: T·M·阿莱斯三世 C·P·罗特若夫
主分类号: A61F13/42(2006.01)I
分类号: A61F13/42(2006.01)I
  • 法律状态
2013-03-20  授权
2010-04-28  实质审查的生效IPC(主分类):A61F 13/42申请日:20071114
2010-03-10  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种探测吸收性物品中出现污损的方法,所述方法包括: 当穿戴者穿着该物品时监测该物品的电性质,其中该电性质响应于污 损而变化; 确定该电性质的参数随时间的斜率; 将该斜率与一阈值相比较以确定污损的出现。
公开号  101668499
公开日  2010-03-10
专利代理机构  北京泛华伟业知识产权代理有限公司
代理人  王勇 姜华
颁证日  
优先权  2006.12.15 US 11/611,435
国际申请  2007-11-14 PCT/IB2007/054636
国际公布  2008-06-26 WO2008/075227 英
进入国家日期  2009.08.14