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LSI试验装置、LSI试验方法、LSI试验程序以及存储介质
有权
权利转移
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申请号:200780050866.1 申请日:2007-02-20
摘要:生成如下的测试图案,即:在测试合成前的网络列表中插入测试电路,并根据由其获得的测试合成后的网络列表,仅将一部分门控时钟缓冲器同时激活。使用测试图案进行由测试合成后的网络列表构成的电路的仿真,并根据由其获得的工作率信息,解析电压下降量。变更门控时钟缓冲器的激活率以使得由其解析获得的电压下降量小于等于系统工作时的电压下降量,进行LSI的高速试验。
申请人: 富士通微电子株式会社
地址: 日本东京都
发明(设计)人: 吉川聪
主分类号: G01R31/28(2006.01)I
分类号: G01R31/28(2006.01)I G06F11/22(2006.01)I G06F17/50(2006.01)I
  • 法律状态
2015-06-03  专利权的转移IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:专利权人变更前权利人:富士通半导体股份有限公司变更后权利人:株式会社索思未来变更事项:地址变更前权利人:日本神奈川县变更后权利人:日本神奈川县登记生效日:20150513
2013-05-22  授权
2011-02-16  实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20070220
2010-03-10  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种LSI试验装置,其特征在于,包括: 测试电路合成单元,在测试合成前的网络列表中插入测试电路; 测试图案生成单元,根据上述测试电路合成单元所合成的测试合成后 的网络列表生成测试图案,该测试图案仅同时激活一部分门控时钟缓冲 器; 仿真单元,使用通过上述测试图案生成单元所生成的测试图案,使由 上述测试合成后的网络列表构成的电路工作; 电源解析单元,根据由上述仿真单元获得的工作率信息,解析电压下 降量。
公开号  101669036
公开日  2010-03-10
专利代理机构  北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人  赵淑萍 南霆
颁证日  
优先权  
国际申请  2007-02-20 PCT/JP2007/053059
国际公布  2008-08-28 WO2008/102433 日
进入国家日期  2009.08.03