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试验装置
无权-未缴年费

Test apparatus

申请号:200480025255.8 申请日:2004-09-01
摘要:本发明提供一种试验装置,用于试验电子元件,此试验装置包括:多个测试模块、多个返回电路、多个汇总部与多个分配部。其中,测试模块进行电子元件和信号的授受。返回电路与测试模块对应设置,并接收用于表示在电子元件输出的输出图案上产生故障的时序的故障时序信号。汇总部接收返回电路输出的故障时序信号,并计算故障时序信号中的一个以上的故障时序信号的逻辑和,且输出1位的信号。分配部与汇总部对应设置,并将对应的汇总部的运算结果分配到测试模块。
Abstract:
申请人: 爱德万测试株式会社
Applicant: ADVANTEST CORP[JP]
地址: 日本东京都
发明(设计)人: 谷浩一
Inventor: KOICHI YATSUKA[JP]
主分类号: G01R31/28(2006.01)I
分类号: G01R31/28(2006.01)I
  • 法律状态
2015-10-28  未缴年费专利权终止IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20040901授权公告日:20090128终止日期:20140901
2009-01-28  授权
2006-12-06  
2006-10-11  公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
  • 其他信息
主权项  1.一种试验装置,用于试验电子元件,其特征是该试验装置包括: 多个测试模块,进行与该电子元件的信号授受; 多个返回电路,与上述这些测试模块对应设置,并接收用于表示 在该电子元件输出的输出图案上产生故障的时序的多个故障时序信 号; 多个汇总部,接收上述这些返回电路输出的上述这些故障时序信 号,并计算上述这些故障时序信号中的一个以上的上述这些故障时序 信号的逻辑和,且输出1位的信号;以及 多个分配部,与上述这些汇总部对应设置,并将对应的上述这些 汇总部的运算结果分配到上述这些测试模块。
公开号  1846140A
公开日  2006-10-11
专利代理机构  北京连和连知识产权代理有限公司
代理人  薛平
颁证日  
优先权  2003.9.3 JP 311746/2003
 
国别 优先权号 优先权日 类型
JP  311746/2003  20030903 
国际申请  2004-09-01 PCT/JP2004/012653
国际公布  2005-03-17 WO2005/024445 日
进入国家日期  2006.03.02
  • 专利对比文献
类型 阶段 文献号 公开日期 涉及权利要求项 相关页数
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